AMI STADI VARI – Modüler ve Çok Amaçlı X-Işını Kırınım Sistemi (XRD)
Esneklikte Yeni Standart: Tek Kristal ve Toz XRD Analizi Bir Arada STADI VARI, STOE teknolojisiyle geliştirilmiş, hem tek kristal hem de toz numunelerin analizi için optimize edilmiş modüler bir XRD sistemidir. Yüksek hassasiyetli gonyometre yapısı ve değiştirilebilir dedektör seçenekleri ile malzeme biliminden ilaç geliştirmeye kadar en karmaşık yapısal analiz ihtiyaçlarını karşılar.
Ürün hakkında detaylı bilgi, teknik doküman veya fiyat teklifi almak için uzman ekibimizle iletişime geçebilirsiniz.
📧 E-posta istemcisi açılmadı mı?
Tarayıcınızda Gmail veya Outlook'u varsayılan yönetici olarak tanımlayın ya da adresi kopyalayın:
İncele
Açıklama
Genel Bakış:
Advanced Measurement Instruments (AMI) bünyesindeki STOE uzmanlığıyla üretilen STADI VARI, araştırma laboratuvarlarına benzersiz bir esneklik sunar. Cihazın modüler tasarımı, kullanıcıların ihtiyaçlarına göre mikro-odaklı kaynaklar, farklı dalga boyları ve çeşitli dedektör konfigürasyonları arasında geçiş yapmasına olanak tanır.
Öne Çıkan Özellikler:
-
Modüler Konfigürasyon: Tek bir şasi üzerinde Toz XRD (PXRD) ve Tek Kristal XRD (SCXRD) kabiliyetlerini birleştirir.
-
Yüksek Hassasiyetli Gonyometre: Açsal doğrulukta en üst segment performans sağlayarak en küçük kristal yapılarının bile net görüntülenmesini sağlar.
-
Hibrit Piksel Dedektör Teknolojisi: Hızlı veri toplama süresi ve ultra düşük gürültü oranı ile yüksek çözünürlüklü veri seti.
-
Geniş Aksesuar Desteği: Sıcaklık kontrollü hücreler, basınç hücreleri ve otomatik numune değiştiriciler ile tam entegrasyon.
Temel Uygulama Alanları:
-
Kristal Yapı Aydınlatılması (Structure Solution)
-
Faz Tanımlama ve Kantitatif Analiz
-
Polimorfizm ve Kristalinite Çalışmaları
-
Nanomalzemelerin Yapısal Karakterizasyonu
-
Yerinde (In-situ) Termal ve Kimyasal Dönüşüm İzleme
5. Ürün Verisi (Teknik Tablo – Nitelikler/Attributes)
WordPress panelindeki Nitelikler kısmına eklenecek tablo verileri:
| Teknik Özellik | Detay |
| Ölçüm Geometrisi | Transmisyon veya Refleksiyon (Modüler) |
| X-Işını Kaynağı | Mikro-odaklı (Mo, Cu, Ag, Co veya Ga seçenekleri) |
| Dedektör Tipi | Hibrit Piksel Dedektör (DECTRIS PILATUS / EIGER) |
| Açısal Doğruluk | < ± 0.005° 2θ |
| Uygulama Modları | Tek Kristal (SCXRD) ve Toz (PXRD) |
| Numune Ortamı | Oda sıcaklığı, Kryojenik veya Yüksek Sıcaklık opsiyonları |
Resmi Türkiye Temsilciliği
Eltratek olarak, temsilciliğini yaptığımız tüm markaların Türkiye'deki yetkili satış ve teknik servis partneriyiz. Kurulum, eğitim, aplikasyon desteği ve yedek parça tedariğini üretici standartlarında sunmaktayız.
İletişim